k215411 wrote:此CPU是純粹發表還...(恕刪) 2007Q2, Intel就已經在其網頁公佈45nm ready, CPU預計Q3~Q4開賣..大家引領期盼的High-K metal gate也等這一顆開賣後,作X-section 分析 (當然~對gate的EDS不可少啊~呵呵).只是未來哪條路對呢?IBM的HOT?AMD的SOI.....至少目前Intel成功開出high-K metal gate了..(果然燒錢不手軟..><)不知道22nm時會是怎樣的狀況@_@...To camiry 大 :Intel強就是設備機台move in進去~工程師都自行改裝...就算你跟Intel買相同機型的機台一樣無法tune跟他一樣的結果U_U...----------上圖引用IBM公佈於網路的Report圖之一
neoko wrote:我記得soi在製程越...(恕刪) 嗯~詳細我就不太清楚~但對IBM之前提出的HOT的技術~也覺得很厲害.就如同去年看到Corsair發表的Metal S/D 作法~感覺比用SiGe S/D猛~但只可惜對於DRAM或許看到好處~但對於logic function不見得好U_U..
shihming wrote:2007Q2, In...(恕刪) Intel的RD非常的強,不只在resource和人力素質上都是...以下是網路上找到的2006 top R&D spender2006 Top R&D Spender按照R&D expense 佔營收的比例來看, intel排第22, 約是16.6%,還輸給AMD的21.3%..但是如果照total expense來看,intel 2006花了約58億美金在R&D上,約是AMD的5倍在半導體廠中僅次於IBM and Samsung, 這還不考慮IBM的R&D不是全部focus在半導體上...而且據說intel有一個12" FAB專門for R&D...真是超大的手筆...半導體廠的R&D如果和量產製程一起共用FAB, 常常會有很多麻煩的事...不是RD的貨被FAB東卡西卡怕污染怕影響良率,就是產能太滿然後RD的貨就是run的比較慢...
根據強者我同學的說法(他之前在UMC做我也不知道該怎麼稱呼的研發工作)他說:「intel 上一代的65nm, poly 線寬約 35nm,TSMC 和 UMC的65nm , 線寬則是 45nm,大概是intel 90nm 的technology,而intel 45nm, 相當於 TMSC 和 UMC 32nm 下一代的technology。就目前現行半導體元件技術來說,intel 這個叫做 32nm 的 High K Metal Gate。」至於為什麼大家的"65"nm的線寬都不是65,他的說法如下:「這是黃光的定義,只是實際上 TEM 切下去,線寬就是 45nm,並非65nm,那個是來自於黃光限制,實際上製程在做的時候,poly gate 會做的更小,大家最後 delivery 出去的 performace 就是要切一刀,去看有多瘦,performace 多好。」--------------是的,我跟大家一樣,後面已經聽不懂他在講什麼鬼話。「但簡單的說就是TSMC和UMC差intel 兩個世代,大約落後三年。現在TSMC和UMC都在等Penryn開賣,然後買來切開,reverse engineer(逆向工程)猜是怎麼做的。買來切,然後 FIB , TEM 下去看 Cross-section,像UMC現在就是follow AMD的cross-section 做」<=這是他說的,不是我。另外「AMD跟intel比,Intel還是比較強,但落差沒有像TSMC vs intel那麼大, intel 的資源感覺起來比較多」有高人可以出來解釋或証實一下嗎?
G.F wrote:根據強者我同學的說法...(恕刪) 不管是90、65 or 45nm generation 是指LT可以曝的最小size, 但是poly etch 時會多吃 (LT - 45nm , but etch後 -> 40~or 更小)..所以實際把device 拿去切TEM, 會小於實際(layout定義的寬度)至於AMD X-section的檔案~是針對其Dual core processer去切的 (細節內容~於此不方便談下去)為何要一直scaling down? T = CV/I --> 這個公式對於唸過半導體課程的網友應該不陌生..(T = time, C - capacitance, V - voltage, I - on-current)So, speed是目的, 那源頭就是針對 C, V, I作改變. 而poly length (你想成大家稱的90nm, or 65m,這種大小意思) 是最直接可以影響I & V , 當然 C也會因其Cov (LDD, S/D...等而減少/增加..)~總之,一直想要把T減少(增加I , 減低V and C)伴隨而來就是一堆leakage (power lose...等可靠度問題...)-------------我提供兩張舊資料圖~蠻適合入學者study的1. Intel 98 年的paper (出處:IEEE) --> 提出device的limit與factors :2.整個device improvment的循環相依性 :簡而言之,當phy. limit無法改變時,就是往device structure改變 (為何就開始有SOI, H-K, HOT等等研究)-------------
shihming wrote:不管是90、65 o...(恕刪) 在半導體業早期所謂的1um,0.5um,0.25um等等的generation,通常指的是黃光和蝕刻所能做出的最小線寬..而這最小線寬早期正好都是指閘極(gate)的線寬...所以早期所謂的xx um generation的xx um指的就是gate length.但是到了0.13um, 90nm, 65nm, 45nm等generation,這時這個定義就有點不同了...這時這些數字只是一個製程世代的代表,不一定代表元件或製程所能達到的最小線寬...這其實有幾個因素,一個是當製程微縮時,為了達到至少每個generation晶片0.5X面積的縮小,(也就是長度或寬度scale down 0.7倍), 不是每一層layer都能等比scale down...(這牽涉到不同層次如isolation, gate, metal等製程的限制)如此一來便必須做些變通(例如把gate曝光時弄小一點,讓metal或contact在曝光和蝕刻時可以較容易些), 來讓整個完成的晶片面積能縮小到上一世代的一半...另一方面就是為了marketing 的考量了...所以到了90nm, 65nm, 45nm時,你會發現怎麼gate length 縮小的更快...而且每家公司的nominal gate length都有可能會不同,這也牽涉到公司的策略以及產品的需求等...不過通常SRAM的面積都還是比上一世代縮小0.5X...而且大家的SRAM面積在同一generation會差不多...呵呵
camiry wrote:在半導體業早期所謂的...(恕刪) 若以客戶端考量當然得益~之前T and U之間搶訂單也可以這麼搞死對方.原本該下65nm的訂單~但另一家硬是直接跟客戶開個進階版55nm~介於65~45nm之間對客戶而言~同樣cost卻可gaiin到更大的面積~和樂而不為之呢~至於nominal devcie 還是看客戶端下的target去tuning..同樣用65nm, 不同家客戶所定義的nominal device也不同~畢竟short channel那裡差一級~就差很多了..(整個roll-off curves)而SRAM要縮比單純improve device 更難~單純元件端都進客戶的target, 但一放進SRAM~一些問題就會被放大出來..(最掯這種事情@_@)哪一天..Intel回頭吃low-end的訂單~就有得瞧了...Orz..