laputa38 wrote:
以外行人的看法
只要不要有廢熱的問題,愛多快都不是問題
還是有問題,基礎限制中有一條,任何實體或波等的移動 (i.e: 訊息傳遞) 都不能超過光速
(相對論)
不過現知的量子力學中,有例外
對某些CPU來說,將時鐘頻率降低一半(降頻),一般來說性能也將降低一半,同時此CPU產生的熱量也將減少到原來的一半
與此相對的,有些人試圖提高CPU性能,為此他們嘗試讓CPU運行在一個較高的時鐘頻率上(超頻)[1]。對他們來說他們的超頻行為可能會很快受到下面一條或者兩條條件的限制:
● 在一個時鐘脈衝後,CPU的信號線需要時間穩定它的新狀態。如果上一個脈衝的信號還沒有處理完成,而下一個時鐘脈衝來的太快(在所有信號線完成從0到1或者從1到0的轉換前),就會產生錯誤的結果。芯片製造商制定了「最高時鐘頻率」的規範,並且在出售芯片之前對它們進行測試確保它們符合「最高時鐘頻率」的規範。測試將執行最複雜的指令,處理最複雜的數據模型確定使用的最長處理時間(測試在最合適的電壓和穩定保證CPU在最低性能下運行),保證最高時鐘頻率時不會發生衝突。
● 當信號線從1轉換到0狀態(也可以是0轉換到1狀態)時,將會浪費部分能量使之轉換為熱能(主要是內部驅動晶體管)。當CPU執行複雜指令,由此進行大量的1狀態0狀態之間的互相轉換時,更高的時鐘頻率將產生更多的熱量。如果產生的熱量不能被散熱系統及時帶走,晶體管將可能因此過熱損壞。
指電子的流動所導致的金屬原子的遷移現象。在電流強度很高的導體上,最典型的就是IC內部的電路,電子的流動帶給上面的金屬原子一個動量(momentum),使得金屬原子脫離金屬表面四處流動,結果就導致金屬導線表面上形成坑洞(void)或土丘(hilllock),造成永久的損害,這是一個緩慢的過程,一旦發生,情況會越來越嚴重,到最後就會造成整個電路的短路(short),整個CPU就報銷了。
「電子遷移」現象受許多因素影響,其中一個是電流的強度,電流強度越高,「電子遷移」現象就越顯著。從CPU的發展史,我們可以發現,為了把CPU的die size縮小,IC越做越小,線路做的越細越薄,如此,線路的電流強度就變的很大,所以電子的流動所帶給金屬原子的動量就變的很顯著,金屬原子就容易從表面脫離而四處流竄,形成坑洞或土丘。
另外一個因素是溫度,高溫有助於「電子遷移」的產生,這就是為什麼我們要把CPU的溫度維持在70以下。
chiyenms wrote:
你的回答才是沒有擦...(恕刪)