NAND Flash技術競賽跑過頭效能下降、不適用SSD眾廠猛推存疑慮

johnnydee wrote:
INTEL新的G2真...(恕刪)


我第一次聽到wafer 中間跟邊緣所切出來的晶粒,效能會有差別

可能是我孤陋寡聞吧....
jom1216 wrote:
不過看到很多G2災情...(恕刪)


當然我用過G2 160G,在初版FW下,把Flash做超過24hr的讀取/寫入測試,最後閒置(讓它的GC作動)超過24hr,再來測試速度,沒想到速度不但回不來,而且那顆160G還無法在重新切割分割區或者安裝系統,早已經被我送回去了。

我會這麼說,難道你都沒看到"G2"用的34nm其實並不是好東西,所以賣價可以降成這樣。

倒不是我用G1就說G1很好,而是G2真的沒有比G1好,我幹嘛去硬推G2好?
小仲827 wrote:
我第一次聽到wafe...(恕刪)


看看他的賣價,除了Flash本身是變動價格以外,G2與G1同樣80G相比,兩者差價差太多了,你可以去問問Flash產業工作的人,Wafer邊緣跟中間有沒有差就好。

2-bit-per-cell===>2倍
3-bit-per-cell===>3倍
4-bit-per-cell===>4倍
X-bit-per-cell與容量的關係應該是上面這樣才對喔。

3-bit-per-cell是說一個cell可以program 3次,所以是三倍,並不是用2^3來看。
johnnydee wrote:
看看他的賣價,除了F...(恕刪)


就DRAM 製程來說,並沒有所謂wafer中間與外圍的die有效能的差異,只有良品與不良品的差別而已

NAND flash 製程我就不確定了,還有請版上高人指點....
小仲827 wrote:
就DRAM 製程來說...(恕刪)


這個版面上把 wafer 中間跟邊緣顆粒的 "效能" 拿來比的人,
你是第一人, 也是唯一一人耶....
把Flash做超過24hr的讀取/寫入測試,最後閒置(讓它的GC作動)超過24hr

-----------------j

請問...
如果是傳統碟...或傳統碟組raid.0
您有做過這樣的燒機測試嗎

正常使用下
保護SSD的寫入次數都無所不用其能了
還超過24小時的不間斷讀/寫

以您做這樣的測試
僅能說尊重也接受您的實驗精神
但..並不能代表G2 nand是爛貨
這樣的指控....
太沉重了

魚與熊掌不可兼得
又要便宜又要大碗
難道G2 只能用SLR顆粒 賣幾個萬才能平你之怒嗎?

----^^
Cudacke Dees wrote:
這個版面上把 waf...(恕刪)


我不是第一人啦

23樓的才是第一人,我是質疑他的說法而已
小仲827 wrote:
我不是第一人啦23樓...(恕刪)


23 樓那位,
從頭到尾根本沒用到 "效能" 兩字,
"效能" 是你自己在 21 樓關連到 wafer 中間與邊緣顆粒的.
Cudacke Dees wrote:
23 樓那位,從頭到...(恕刪)


沒有錯,他沒提到"效能"兩字,難道你看不出來他的意思嗎?

他的意思就是G1比G2好,這不是指效能嗎?難道是指G2為不良品???

wafer 中間與邊緣的關係也是他提出來的-----"我有一個G1 80G在服役,裡面是INTEL 34nm D1,這可是Wafer中間的好貨",不是我說的
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