寫入的量要包含Trim GC等等的機制全部都算進去當產品為了要測試能夠有較亮眼的成績 就很可能讓這些機制變更頻繁讓每次測試要寫入時都能夠不需要等待清除 直接就能做寫入的動作只是這些機制都蠻傷SSD的 如果是韌體相容度差 機制不正常也是會加速異常就連長期安裝在APPLE或其他時常高溫的筆電裡使用 壽命也是會加速下降PE值只是原廠提供的參考依據 別將他當成算數學一樣 認定會是絕對的結果總之顆粒只要用久了老化 可靠性就開始降低 不論你SMART寫入量是多少都可能還是要面臨SSD壽命快速降低 所以顆粒品質與製程絕對才是壽命關鍵因素要是遇到是RMA使用過的Flash 舊IC重新製造後刷新韌體的產品就算SMART即便顯示寫入不多 但是過去老化部分不會就因此不存在實際使用時SSD可靠度與效能依然會變得越來越差SMART參考就好 不然豈不是只要清除SMART紀錄就又能壽命恢復 SSD永遠都沒有壞的一天